三坐标测量 (CMM)

适用于首件检验、工艺能力研究（CPK≥1.33）、精密选配配对。DIN 2093 Group 1 要求 De 公差 ±0.05mm（De≤50mm），Di 公差 ±0.10mm。

参考标准

所需设备

检测步骤

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   工件装夹与坐标系建立: 将碟簧/垫圈固定于 CMM 平台（磁力吸盘或专用夹具）。建立工件坐标系：基准面 A（底面平面）→ 基准轴 B（外径圆柱）→ 基准点 C（定位销孔或刻线）。

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   关键尺寸测量: 测量项目：外径 De（≥8 点圆拟合）、内径 Di（≥6 点圆拟合）、厚度 t（≥5 点平面拟合）、自由高度 H₀、锥度角 α。每尺寸至少重复 3 次取均值。

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   形位公差评定: 评定项目：外径对内径的同轴度（≤0.1mm）、上下表面平行度（≤0.05mm）、外径圆度（≤0.03mm）。DIN 2093 Group 1 公差最严，Group 3 公差最宽。